มุมแนะนำ

วันอาทิตย์ที่ 12 พฤษภาคม พ.ศ. 2556

กล้องจุลทรรศน์



กล้องจุลทรรศน์
       กล้องจุลทรรศน์ (Microscope) เป็นเครื่องมือที่ใช้ขยายประสาทสัมผัสทางตา
1.องค์ประกอบที่สำคัญของกล้องจุลทรรศน์
       เลนส์ใกล้ตา (Ocular Len) ขยายภาพที่เกิดจากเลนส์ใกล้วัตถุ ภาพสุดท้ายที่ได้จะเป็นภาพเสมือนหัวกลับขนาดใหญ่
       เลนส์ใกล้วัตถุ (Objective Len) ทำให้ เกิดภาพแรกที่เป็นภาพจริงหัวกลับ
       ปุ่มปรับภาพหยาบ (Coarse Adjustment) ปรับดูภาพให้ชัดเจนเมื่อใช้เลนส์กำลังขยายต่ำ
       ปุ่มปรับภาพละเอียด (Fine Adjustment) ปรับดูภาพให้ชัดเจนเมื่อใช้เลนส์กำลังขยายสูง
       เลนส์รวมแสง (Condenser) รวมแสงให้มีความเข้มสูงพอ
       ไดอะแฟรม (Diaphragm) ความคุมปริมานแสงให้พอเหมาะ (เปรียบเหมือนม่านตา Iris)
การเพิ่มกำลังขยายทำให้เนื้อที่ที่เห็นภาพน้อยลง แต่เห็นรายละเอียดของวัตถุที่ศึกษามากขึ้น นอกจากนี้อาจทำให้ความสว่างของภาพลดลงจึงต้องปรับไดอะแฟรมให้แสงสว่างขึ้น ภาพที่เห็นในกล้องเป็นภาพเสมือนหัวกลับขนาดใหญ่กว่าวัตถุ
กำลังขยายกล้องจุลทรรศน์ = กำลังขยายของเลนส์ใกล้ตา x กำลังขยายของเลนส์ใกล้วัตถุ
ขนาดจริงของวัตถุ        = กำลังขยายของกล้องจุลทรรศน์ / ขนาดภาพที่ปรากฏในกล้องจุลทรรศน์

2.กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง (Light Microscope)
       2.1 กล้องจุลทรรศน์ใช้แสงแบบธรรมดา (Compound light microscope)
              - เป็นกล้องจุลทรรศน์แบบเลนส์ประกอบ ภาพเสมือน 2 มิติ
              - ใช้แสงสว่างจากดวงอาทิตย์หรือหลอดไฟฟ้า จะเห็นจำนวนเซลล์มากขึ้นแต่ไม่เห็นภายใน
              - มีกำลังขยายประมาณ 2000 เท่า สามารถมองวัตถุที่มีขนาดเล็กได้เพียง 1 ไมโครเมตร
       2.2 กล้องจุลทรรศน์ใช้แสงแบบสเตริโอ (Stereo microscope)
              - ภาพที่เห็นเป็นภาพเสมือน 3 มิติ มีความลึกชัดใช้ได้ทั้งวัตถุทึบแสงและโปร่งแสง
              - เลนส์ที่ใกล้วัตถุมีกำลังขยายน้อยกว่า 10x จะต้องปรับโดยใช้เลนส์ใกล้วัตถุที่มีกำลังขยายสูงก่อน
              - ระยะห่างจากเลนส์ใกล้วัตถุไปยังวัตถุในช่วง 63-255 มิลลิเมตร
3.กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Electron Microscope)
       ส่องดูวัตถุที่มีขนาดเล็กกว่า 1 ไมโครเมตร จนถึง 0.0005 ไมโครเมตร ได้ มี 2 แบบ คือ
              3.1 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscope ; TEM) ตัวอย่างที่มีการเตรียมให้บางมากจนลำแสงอิเล็กตรอนผ่านได้จะได้ ภาพ 2 มิติ
              3.2 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Microscope ; SEM) ใช้ศึกษาลักษณะภายนอกของตัวอย่างทึบแสง ทำให้เห็นภาพ 3 มิติ ของวัตถุได้ชัดเจน

ไม่มีความคิดเห็น:

แสดงความคิดเห็น

มุมแนะนำ